LED光源標準可見光波段范圍大約是400nm-750nm，但是有些材料的檢測特征需要用到900nm-2500nm的短波紅外光范圍（SWIR，short-wave infrared）。若想要洞見人眼所不能直接觀察到的另一個光學(xué)世界，比如：透視油畫顏料下方的底稿、看飲料瓶是否裝滿、檢測半導(dǎo)體、看被霧霾遮擋的城市等等，則需要借助專業(yè)的成像照明設(shè)備。我司開發(fā)的紅外光纖光源，配套短波紅外相機成像，可有效滿足此類檢測需求。
產(chǎn)品特點：
1.用于外觀檢查和內(nèi)部檢查的紅外光纖光源
2.標配810nm～1650nm共9個波長
3.最適合替換鹵素光源
4.使用LED光源，發(fā)熱量低、減少對照射物的熱損傷
2.標配810nm～1650nm共9個波長
3.最適合替換鹵素光源
4.使用LED光源，發(fā)熱量低、減少對照射物的熱損傷
應(yīng)用行業(yè)：
1.半導(dǎo)體晶圓與芯片裂紋雜質(zhì)檢測
2.食品篩選分揀
3.填充物的狀況識別
4.微光夜視，觀察到夜晚中的物體
配件示意圖
案例圖
燈箱光源具有高亮特性,在相機低曝光時間下能滿足相機對于光源亮度需求，拍攝出隱藏在產(chǎn)品下的雜質(zhì)缺陷。
電池膜表面缺陷檢測
成像實例：檢測儀表輪廓
燈箱光源亮度高，且短波紅外穿透性好，儀表輪廓清晰。
光源參數(shù)
感謝您的觀看，我們下期再會。
